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SJ1 三维微晶片检测调整装置 (索引号:752-1)

所属系列:个性化定制产品-SJ 检测系统

SJ1 三维微晶片检测调整装置

 

升降部分采用手动粗微调结合,升降操作方便。

前端装有环形灯,用于工作台面照明。

工作载物台用于安放被检测物体并且进行精密二维对准。

使用方便,调节精度高,广泛用于实验室、检验检测等场合。

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主要参数:
 
移动方向:X、Y(下方工作台),Z(粗微调升降装置)
调节范围:X、Y:50mm, Z:快调:200mm,精调:75mm
最小分辨率:X、Y、Z:2um
最小读数:X、Y:0.005mm,  Z:0.01mm

SJ1 三维微晶片检测调整装置

 

      该装置用于调整、检测微晶片或者其他微小物体,装置主体的升降部分采用粗微调结合的手动调节机构,升降操作方便。前端装有环形灯,用于给下方的工作台面照明。下方是二维手动调节的工作载物台,用于安放被检测物体并且进行精密二维对准。整套装置使用方便,调节精度高,可以广泛用于实验室、检验检测等场合。

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